Boekstra.nl - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Applied Measurement with jMetrik

Applied Measurement with jMetrik

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Applied Measurement with jMetrik

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Applied Measurement with jMetrik

Omschrijving

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

In de winkelwagen Bestel vandaag,
ontvang het met 5 werkdagen. Wenslijst Stel een vraag

In de winkelwagen 14 werkdagen Wenslijst Stel een vraag

Gratis verzending vanaf
€ 19,95 binnen Nederland

Schrijver: Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Titel: Applied Measurement with jMetrik
Uitgever: Taylor & Francis Ltd

Jaar: 2014
Taal: Engels
Pagina's: 170
Gewicht: 431 gr

EAN: 9780415531955
Afmetingen: 234 x 155 x 15 mm
Bindwijze: Hardback

U ontvangt bij ons altijd de laatste druk!

Rubrieken

Eten en drinken

Alle categorieën

Rubrieken

Eten en drinken

Alle categorieën