Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Jenkins, M.L (University of Oxford, Kirk, M.A (Argonne National Laboratory

Jenkins, M.L (University of Oxford, Kirk, M.A (Argonne National Laboratory - Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Jenkins, M.L (University of Oxford, Kirk, M.A (Argonne National Laboratory - Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Omschrijving

Details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. This book also focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops.
€ 343,75
Gebonden
In de winkelwagen Geleverd met 5 werkdagen. Wenslijst Stel een vraag
In de winkelwagen Geleverd met 5 werkdagen. Wenslijst Stel een vraag
Gratis verzending vanaf
€ 19,95 binnen Nederland
Schrijver
Jenkins, M.L (University of Oxford, Kirk, M.A (Argonne National Laboratory
Titel
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Uitgever
Taylor & Francis Ltd
Jaar
2000
Taal
Engels
Pagina's
234
Gewicht
544 gr
EAN
9780750307482
Afmetingen
248 x 159 x 19 mm
Bindwijze
Gebonden

U ontvangt bij ons altijd de laatste druk!

Rubrieken

Studieboeken
Kunst
Wijnen
Informatica
Eten en drinken
Sport
Reizen
Oorlog
Streekromans
Strips
Gezondheid
Bijbels
Novelle
Politiek
Fietsen
Muziek
Zwangerschap
Solliciteren
Alle categorieën
Boekstra