Timing, memory, power dissipation, testing, and testability are crucial elements of VLSI circuit design. This title treats stacked gate, embedded, and flash memory, including their power consumption and developments in low-power memories. It provides a chapter to deal with the topic of application-specific integrated circuits (ASICs).
Ik heb een vraag over het boek:
'Memory, Microprocessor, and ASIC - '.
Vul het onderstaande formulier in.
We zullen zo spoedig mogelijk antwoorden.
Wij respecteren je privacy
We gebruiken cookies om bezoek te meten, Boekstra te verbeteren en om advertenties van Google op je interesses af te stemmen. Je kunt de site hoe dan ook gewoon blijven gebruiken — ook als je weigert. Meer info
