Introduction to Optical Metrology

Sirohi, Rajpal S. (Austin

Omschrijving

This book describes both theory and practice of optical techniques to measure various parameters encountered routinely in science and engineering.
€ 165,10
Gebonden
Gratis verzending vanaf
€ 19,95 binnen Nederland
Schrijver
Sirohi, Rajpal S. (Austin
Titel
Introduction to Optical Metrology
Uitgever
Taylor & Francis Ltd
Jaar
2025
Taal
Engels
Pagina's
450
EAN
9781032872797
Bindwijze
Gebonden

U ontvangt bij ons altijd de laatste druk!


Rubrieken

Boekstra