Boekstra.nl - Goodhew, Peter J. (University of Liverpool, Liverpool, England), Humphreys, John (The University of Manchester, England, UK), Beanland, Richard (GEC-Marconi Materials Technology, England, UK)

Electron Microscopy and Analysis

Goodhew, Peter J. (University of Liverpool, Liverpool, England), Humphreys, John (The University of Manchester, England, UK), Beanland, Richard (GEC-Marconi Materials Technology, England, UK)

Omschrijving

A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.

In de winkelwagen Bestel vandaag,
ontvang het met 5 werkdagen. Wenslijst Stel een vraag

In de winkelwagen 15 werkdagen Wenslijst Stel een vraag

Gratis verzending vanaf
€ 19,95 binnen Nederland

Schrijver: Goodhew, Peter J. (University of Liverpool, Liverpool, England), Humphreys, John (The University of Manchester, England, UK), Beanland, Richard (GEC-Marconi Materials Technology, England, UK)
Titel: Electron Microscopy and Analysis
Uitgever: Taylor & Francis Ltd

Jaar: 2017
Taal: Engels
Pagina's: 264
Gewicht: 454 gr

EAN: 9781138441538
Bindwijze: Hardback

U ontvangt bij ons altijd de laatste druk!

Electron Microscopy and Analysis

Goodhew, Peter J. (University of Liverpool, Liverpool, England), Humphreys, John (The University of Manchester, England, UK), Beanland, Richard (GEC-Marconi Materials Technology, England, UK)

Omschrijving

Rubrieken

Rubrieken